DEVOCEAN

반도체 제조에서 Computer Vision 기술을 활용한 이미지 기반 계측(Image Metrology)의 중요성 및 발전 방향과 Panoptes IM의 혁신적인 기술을 소개합니다.

제조 공정이 잘 진행되고 있는지 확인할 수 있는 방법 중 하나로, 이미지를 찍어 분석하여 공정 결과를 계측(Metrology) 할 수 있습니다. Panoptes IM(Image Metrology)은 반도체 제조에서 나노미터 수준의 이미지를 효과적으로 계측할 수 있도록 합니다. Universal denoiser부터 Augmented Metrology까지, Panoptes IM이 추구하는 혁신 기술은 무엇이며 도입 Test 결과는 어떠한지 소개하고 제품 비전과 향후 계획도 공유하고자 합니다.

■ 발표자 소개

김일구 (가우스랩스)

영상 처리 전공 후 삼성전자에서 비디오 압축 표준화, 모바일/TV를 위한 영상 분석 기술 상품화를 수행했습니다.

AI 열풍의 초입부터 딥러닝 기술의 매력에 빠져 물체 인식, OCR, 장면 분석, 고품질 영상 생성 및 실사 아바타 기술을 연구하였습니다.

AI의 블루오션인 산업 AI를 통한 제조업 혁신을 위해 Gauss Labs에 합류하였고, 현재 Computer Vision 및 Image Processing을 리드하며 반도체 제조 혁신을 위해 Panoptes을 개발하고 있습니다.